Ön itt van: Home  SABLONOK  M-TeCK  Teljes elrendezés-ellenőrzés – tér a kialakításhoz

Teljes elrendezés-ellenőrzés – tér a kialakításhoz

Az M-TeCK-sablon speciális gyártástechnológiája egy struktúra nyitott felületének maximális ellenőrzését teszi lehetővé. Az elrendezésben megvalósított orientációtól (szöghelyzettől) függően állandó, nyitott felületet biztosítunk. A szitáknál mindig jelen lévő Moiré-effektus az M-TeCK-sablonok esetében elkerülhető. A szitanyomásban a hurokkeresztezések helyzete a vonalél közelében kisebb pasztafelvitelt eredményez. Az M-TeCK-sablon esetében ezzel szemben ezek a resztezési pontok elmaradnak. Így elkerüljük a térfogat-ingadozásokat, és állandó nyomtatási eredményeket érünk el a magasság és a eresztmetszet tekintetében.

Nagy hatásfokú-HF-struktúra nyomtatása M-TeCK sablonnal.
© Christian Koenen Kft. 2017